使用
国产显微镜可以直接观测到颗粒的形状和大小，可以直接用观察到的几何图像确定颗粒的尺寸，所以国产显微镜法往往作为其它间接测定方法的基准。这种方法所需的试样分量不多，灵敏度较高；不仅可以直接观察，而且还可以通过拍摄将结果记录下来。这些都是其它方法比不上的优点。另一方面，由于所取的试样分量很少，所以这种方法对试样有无代表性的要求甚严。同时对试样的制备技术要求也比较严格。用
国产显微镜观测颗粒的尺寸时，有着许多*的表示方法。因此，充分了解各种颗粒直径的意义便显得格外重要。使用显微镜测量颗粒直径时，通常都是测量颗粒投影像的尺寸。除了必须测量厚度的特殊情况之外，一般只限于测定颗粒的平面像。
1、明视野法
观察试样直接反射光的方法。照明灯的光通过物镜垂直导向而入射于试样，来自试样的直接反射光通过物镜即被观察到。
2、暗视野法
观察试样干涉及衍射光的方法。照明光线通过物镜外围斜射于试样，来自试样的干涉及衍射光即被观察到。
★适用国产显微镜检测试样上微细的擦痕或裂痕、检测晶片等试样镜状表面。
3、微分干涉对比法
这是将用明视野法可能观察不到的试样高度微小差异通过改善对比法变为立体或三维图像的显微观察技术。照明光由微分干涉对比棱镜变为两束衍射光。这两束衍射光使试样高度差异造成在光路上的微小差异，而光路差异变为利用微分干涉对比棱镜和检偏振器的明暗对比。
再利用敏感色板，加强了高度差异的颜色变化。
★适合检测包括金相结构、矿物、磁头、硬磁盘表面和晶片精制表面等有极其微细高度差异的试样。
4、偏振光法
这是使用由两个一组的滤色镜(检偏振器和起偏振器)形成偏光的显微观察技术。这些偏光轴始终保持相互垂直。一些试样在两个滤色镜之间呈鲜明的对比。或根据双折射性能和定向（即、锌结构的抛光试样）呈现颜色。在检偏振器插在目镜前的观察光路时，起偏振器位于垂直照明前面的光路。
★适合观察金相结构(即、球墨铸铁的石墨增长形态)，矿物和液晶(LCD)以及半导体材料。
5、荧光法
本技术用于发出荧光的试样。
★适合利用荧光法检测晶片的污染，感光性树脂的残留物，以及检测裂缝。
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更新时间：2019-02-26 
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